跌落測(cè)試（Drop Test）是一種用于評(píng)估產(chǎn)品在運(yùn)輸、搬運(yùn)或使用過程中因意外跌落而可能受到的沖擊或損壞的可靠性測(cè)試方法。廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品、包裝材料、家電、醫(yī)療器械、工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域，以確保產(chǎn)品在真實(shí)環(huán)境中的耐用性。

一、跌落測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)

不同行業(yè)和產(chǎn)品類型適用的標(biāo)準(zhǔn)有所不同，以下是常見的國(guó)際和國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)：

1. 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

ISTA（國(guó)際安全運(yùn)輸協(xié)會(huì)）

ISTA 1A/1B/1C：適用于普通包裝產(chǎn)品的基本跌落測(cè)試。

ISTA 2A/3A：模擬運(yùn)輸環(huán)境下的多次跌落測(cè)試。

ASTM D5276：包裝件自由跌落試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)（美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)）。

IEC 60068-2-31：電子設(shè)備自由跌落測(cè)試（國(guó)際電工委員會(huì)）。

MIL-STD-810G（美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)）：適用于軍工及高可靠性產(chǎn)品的跌落測(cè)試。

2. 國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4857.5（包裝運(yùn)輸?shù)湓囼?yàn)方法）

GB/T 2423.8（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：自由跌落）

YD/T 1539（通信設(shè)備跌落測(cè)試規(guī)范）

3. 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

手機(jī)/消費(fèi)電子：通常參考1m~1.5m高度，6面/8角/12邊跌落（如iPhone測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）。

物流包裝：根據(jù)運(yùn)輸方式（空運(yùn)、海運(yùn)、陸運(yùn)）選擇不同跌落高度。

汽車電子：部分廠商要求1m高度，多角度跌落。

二、跌落測(cè)試方法

跌落測(cè)試通常包括自由跌落和定向跌落兩種方式，具體測(cè)試流程如下：

1. 測(cè)試設(shè)備

跌落試驗(yàn)機(jī)（可調(diào)節(jié)高度，帶釋放裝置）

沖擊臺(tái)（用于模擬特定角度的跌落）

高速攝像機(jī)（記錄跌落過程，分析損壞模式）

2. 測(cè)試步驟

確定跌落高度

一般消費(fèi)電子：0.5m~1.5m

工業(yè)設(shè)備/包裝：0.3m~2m（視重量和運(yùn)輸環(huán)境）

軍用/汽車電子：可能高達(dá)3m

選擇跌落面/角/邊

6面測(cè)試（正面、背面、左右側(cè)面、上下端面）

8角測(cè)試（包裝箱的8個(gè)角）

12邊測(cè)試（包裝箱的12條棱邊）

執(zhí)行跌落

自由跌落：讓產(chǎn)品自然落下，不施加外力。

定向跌落：控制跌落角度（如45°角撞擊）。

檢查損壞情況

外觀損傷（裂紋、變形、掉漆）

功能測(cè)試（能否正常開機(jī)、運(yùn)行）

內(nèi)部結(jié)構(gòu)（拆解檢查PCB、電池、連接器等）