失效分析的意義
失效分析
失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評(píng)估不同測(cè)試向量的有效性，為生產(chǎn)測(cè)試提供必要的補(bǔ)充，為驗(yàn)證測(cè)試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。
失效分析基本概念
1.進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測(cè)量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。
2.失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理，提出糾正措施，防止這種失效模式和失效機(jī)理的重復(fù)出現(xiàn)。
3.失效模式是指觀察到的失效現(xiàn)象、失效形式，如開(kāi)路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等。
4.失效機(jī)理是指失效的物理化學(xué)過(guò)程，如疲勞、腐蝕和過(guò)應(yīng)力等。
失效分析的意義
1.失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。
2.失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。
3.失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
4.失效分析可以評(píng)估不同測(cè)試向量的有效性，為生產(chǎn)測(cè)試提供必要的補(bǔ)充，為驗(yàn)證測(cè)試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。
上述就是為您介紹的有關(guān)失效分析的意義的內(nèi)容，對(duì)此您還有什么不了解的，歡迎前來(lái)咨詢(xún)我們網(wǎng)站，我們會(huì)有專(zhuān)業(yè)的人士為你講解。
關(guān)鍵詞： 汽車(chē)零部件檢測(cè) FCC認(rèn)證 第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu) 電子元器件檢測(cè) 3C認(rèn)證 成分分析
編輯推薦內(nèi)容：
上一篇：第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)概述燈具檢測(cè)項(xiàng)目
下一篇：紡織品功能性質(zhì)檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)
- 阿根廷出臺(tái)全新產(chǎn)品能效框架法規(guī)
- FCC法規(guī)更新快報(bào)（2024年第四季度）
- 包裝運(yùn)輸測(cè)試和低氣壓測(cè)試
- FCC認(rèn)證的費(fèi)用和時(shí)間**FCC認(rèn)證的常見(jiàn)問(wèn)題
- 泰國(guó)將加強(qiáng)對(duì)得克隆和UV-328的監(jiān)管
- 車(chē)載測(cè)試流程規(guī)范要求介紹
- 水平吹塵試驗(yàn)詳解：標(biāo)準(zhǔn)、流程與應(yīng)用指南
- MSDS報(bào)告（材料安全數(shù)據(jù)表，現(xiàn)多稱(chēng)SDS，即安全數(shù)據(jù)表）的詳細(xì)說(shuō)明
- 可靠性測(cè)試的關(guān)鍵內(nèi)容
- 含紐扣電池產(chǎn)品的禁區(qū)-標(biāo)簽問(wèn)題要點(diǎn)