連接器鹽霧測(cè)試目的

連接器鹽霧測(cè)試是為了確定連接器在有控制的鹽液噴霧大氣中暴露后對(duì)電連接器的組件表面處理層，機(jī)械結(jié)構(gòu)及容許的電氣參數(shù)等產(chǎn)生的影響。

連接器鹽霧測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.17、IEC 60068-2-11 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) Ka:鹽霧試驗(yàn)方法》

GB/T 2423.18、IEC 60068-2-52 《環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Kb:鹽霧, 交變(氯化鈉)溶液》

連接器鹽霧測(cè)試樣品準(zhǔn)備

連接器鹽霧測(cè)試樣品由完全帶有導(dǎo)線、接觸件、密封塞及附件的連接器組裝件組成，除非另有規(guī)定，通常把連接器組裝件插合好。

連接器鹽霧測(cè)試時(shí)間

測(cè)試條件  測(cè)試時(shí)間

     A         96小時(shí)

     B         48小時(shí)

     C         500小時(shí)

     D        1000小時(shí)

除非另有規(guī)定，試驗(yàn)應(yīng)按規(guī)定的時(shí)間連續(xù)進(jìn)行，或直到觀察到特定的失效條件時(shí)才停止。

連接器鹽霧測(cè)試判定標(biāo)準(zhǔn)

1. 接觸端子

1）接觸電阻變化小于10mΩ；

2）用10倍放大鏡觀察，鍍層無剝落、裂痕起皺、分離等現(xiàn)象，表面的腐蝕生成物面積小于5%。

2. 外殼

用10倍放大鏡觀察，鍍層無剝落、裂痕起皺、分離等現(xiàn)象，表面的腐蝕生成物面積小于5%。

3. 說明

1）很輕易被去除的松散腐蝕生成物不用計(jì)算；

2）切斷面的腐蝕生成物不用計(jì)算；

3）腐蝕點(diǎn)的最大直徑小于0.05mm可以不用計(jì)算。

連接器鹽霧測(cè)試報(bào)告辦理流程

1. 先聯(lián)系我司工作人員；

2. 確認(rèn)產(chǎn)品鹽霧測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和時(shí)間；

3. 確認(rèn)可以測(cè)試后，客戶需要填寫申請(qǐng)表，簽訂報(bào)價(jià)合同；

4. 客戶郵寄樣品，付款；

5. 實(shí)驗(yàn)室收到樣品進(jìn)行測(cè)試；

6. 測(cè)試完成，出具正式報(bào)告。

如您有相關(guān)產(chǎn)品需要咨詢，歡迎您直接來電0755-27909791咨詢我司工作人員，獲得詳細(xì)的費(fèi)用報(bào)價(jià)與周期等信息。