GB/T 2423.1 是《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫》標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了熱敏電阻等電工電子產(chǎn)品的低溫檢測(cè)方法。具體如下：

• 試驗(yàn)?zāi)康?/span>：確定熱敏電阻在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

• 試驗(yàn)方法：該標(biāo)準(zhǔn)的低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為試驗(yàn) Ab、試驗(yàn) Ad 和試驗(yàn) Ae。其中，試驗(yàn) Ab 用于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn) Ad 和試驗(yàn) Ae 用于散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn) Ae 要求在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行。

• 嚴(yán)酷等級(jí)：相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定由溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間表示的試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)，溫度可選 - 65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃，持續(xù)時(shí)間可選 2h、16h、72h、96h。

• 試驗(yàn)步驟：首先對(duì)熱敏電阻進(jìn)行初始檢測(cè)，包括外觀檢查和性能測(cè)試；然后將其放入低溫試驗(yàn)箱中，按照規(guī)定的溫度變化速率將溫度降至規(guī)定的低溫值，并保持相應(yīng)的持續(xù)時(shí)間；試驗(yàn)過(guò)程中可根據(jù)要求進(jìn)行中間檢測(cè)；最后進(jìn)行最終檢測(cè)，再次對(duì)熱敏電阻進(jìn)行外觀檢查和性能測(cè)試，與初始檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行比較，評(píng)估其在低溫環(huán)境下的性能變化。