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檢測(cè)認(rèn)證專業(yè)知識(shí)分享

鍍層厚度測(cè)試內(nèi)容介紹

鍍層厚度是什么?

鍍層厚度是指被鍍層物體表面上堆積的金屬材料的厚度,也叫做鍍層沉積厚度。鍍層厚度是評(píng)價(jià)鍍層質(zhì)量的一個(gè)重要參數(shù),通常用微米、毫米或者英寸等單位來表示。

 隨著材料表面技術(shù)的廣泛應(yīng)用和高速發(fā)展,衡量鍍層優(yōu)劣也日益受到大家重視,通常鍍層測(cè)試包括外觀、附著力、硬度、孔隙率、耐腐蝕性、成分和厚度等項(xiàng)目,其中鍍層厚度是衡量鍍層質(zhì)量的重要指標(biāo),是其物理性能測(cè)試中很重要的一個(gè)環(huán)節(jié),在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性以及使用壽命。鍍層厚度的測(cè)試方法很多,本文將著重介紹X射線光譜法(熒光法)、金相法和溶解法這三種檢測(cè)方法及其意義。

 1.鍍層厚度測(cè)試方法一般有:X射線光譜法(熒光法)、金相法、溶解法。

1.1非破壞性檢測(cè)——X射線光譜法(熒光法):

1.1.1原理:基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色或單色X射線與基體和覆蓋層的相互作用,此相互作用會(huì)產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射,而覆蓋層單位面積質(zhì)量和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系,通過測(cè)定其二次輻射強(qiáng)度即得出覆蓋層的線性厚度。

1.1.2設(shè)備:X射線能譜分析儀/鍍層測(cè)厚儀

1.1.3常用標(biāo)準(zhǔn):GB T 16921-2005;ISO 3497-2000; ASTM B568-1998(2014)

1.1.4常用鍍層:金屬鍍層

1.1.5影響測(cè)試結(jié)果的因素:

測(cè)試條件:測(cè)試時(shí)間;測(cè)試次數(shù)等

測(cè)試樣品:覆蓋層的厚度、組成、密度;基體的成分、厚度;測(cè)試面的尺寸、清潔度、傾斜度;試樣曲率、中間覆蓋層等

測(cè)試設(shè)備:測(cè)量程式的選擇,校正標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇;激發(fā)能量和激發(fā)強(qiáng)度;檢測(cè)器、輻射程等

 1.2破壞性檢測(cè)—金相法:

1.2.1原理:是采用顯微鏡檢測(cè)橫斷面,以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。從待測(cè)件上切割一塊試樣,鑲嵌后,采用適當(dāng)?shù)募夹g(shù)對(duì)橫斷面進(jìn)行研磨、拋光和浸蝕后測(cè)試橫斷面的厚度,金相法測(cè)樣品的厚度為局部厚度。厚度越大,誤差越小。

1.2.2設(shè)備:金相顯微鏡、數(shù)碼工具顯微鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)

1.2.3常用標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 6462-2005;ISO 1463:2003;ASTM B487-85(2013);ISO 2808-2007/GB/T 13452.2-2008;ASTM B748-90(2016);GB/T 16594-2008;GB/T 20307-2006;GB/T 17722-1999

1.2.4常用鍍層:絕大部分涂鍍層

1.2.5測(cè)試步驟:試樣截取—試樣清洗—試樣鑲嵌—研磨拋光—腐蝕—觀察分析

1.2.5.1試樣截取—微切片:

①原理:試樣經(jīng)截取,填充環(huán)氧樹脂后,垂直于試樣方向所做的橫斷面切片,是一種觀察樣品截面組織結(jié)構(gòu)情況的最常用的制樣手段。

②測(cè)試步驟:取樣—鑲埋—研磨、拋光、腐蝕

A.      取樣(切割):精密切割(大部分材料)、砂輪切割(金屬材料)、特殊切割(硬度不高的金屬或非金屬材料)

B.       鑲埋:冷鑲(適用于所有產(chǎn)品)、熱鑲(適用于鋼材)、不鑲(適用于具有較大平面的樣品)

C.       研磨、拋光: 砂輪打平—粗砂紙—細(xì)砂紙—粗拋—細(xì)拋—精拋—微腐蝕

1.2.6影響測(cè)試結(jié)果的因素:

測(cè)試條件: 測(cè)試樣品:覆蓋層表面粗糙度;橫斷面的斜度:偏差10,將產(chǎn)生1.5%的誤差;覆蓋層的變形;覆蓋層邊緣倒角;附加鍍層;樣品的腐蝕等

測(cè)試設(shè)備:測(cè)量設(shè)備放大倍數(shù);設(shè)備的標(biāo)尺的校準(zhǔn);測(cè)量設(shè)備的分辨率;明暗場(chǎng)的選擇等

 1.3破壞性檢測(cè)—溶解法:

1.3.1原理:被測(cè)試樣上的涂層,采用一種不使基體金屬收到損壞的溶液,進(jìn)行溶解。涂層的溶液可以用化學(xué)或電化學(xué)法。涂層的厚度按其溶解失重和出去涂層的那一部分表面面積來計(jì)算。一般情況下,涂層的失重可以通過化學(xué)分析法或稱重法測(cè)定。

注:本方法不是測(cè)定鍍層的局部厚度,而是測(cè)定整個(gè)鍍層的平均厚度。測(cè)量誤差一般小于5%。但是,在基體和鍍層含有相同的金屬時(shí),誤差增大,不易測(cè)準(zhǔn)。

1.3.2測(cè)試步驟:將試樣放入適當(dāng)?shù)娜芤褐薪?,使鍍層或基體金屬溶解,然后比較溶解前后試樣的重量,來測(cè)定鍍層質(zhì)量。或者待鍍層溶解完畢后,用化學(xué)分析法測(cè)定鍍層的質(zhì)量。根據(jù)質(zhì)量、密度和試樣面積,計(jì)算出試樣上鍍層的平均厚度。

1.3.3常用標(biāo)準(zhǔn):GB/T 9799-1997;GB/T 12599-2002;GB/T 12307.3-1997

1.3.4常用鍍層:鍍鋅及其合金層

1.3.5計(jì)算公式:

鍍層平均厚度可按下式計(jì)算

H——鍍層的平均厚度(um);

m1——鍍層未溶解時(shí)的試樣質(zhì)量(g);

m2——鍍層溶解后的試樣質(zhì)量(g);

S——試樣上鍍層的表面積(cm2);

d——鍍層金屬的密度(g/cm3)


 2.鍍層厚度檢測(cè)的意義:

鍍層厚度是衡量鍍層質(zhì)量的重要指標(biāo),是其物理性能測(cè)試中很重要的一個(gè)環(huán)節(jié),對(duì)鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)可以保證產(chǎn)品的質(zhì)量,使產(chǎn)品的外觀及使用性能達(dá)到要求,進(jìn)一步提高產(chǎn)品的美觀度;通常情況下,產(chǎn)品會(huì)因表面與外界環(huán)境接觸而發(fā)生腐蝕、磨損、氧化、浸蝕等失效情況,對(duì)其鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)可以保證產(chǎn)品的防腐性能達(dá)標(biāo)從而提高產(chǎn)品的可靠性以及使用壽命,降低生產(chǎn)成本,對(duì)促進(jìn)相關(guān)行業(yè)的發(fā)展起著十分重要的作用


常見主營(yíng)業(yè)務(wù):3C認(rèn)證、CB認(rèn)證、CE認(rèn)證、CQC認(rèn)證、FCC認(rèn)證、FDA認(rèn)證、FDA注冊(cè)、KC認(rèn)證、MSDS報(bào)告、MSDS認(rèn)證、MTBF測(cè)試、MTBF認(rèn)證、PSE認(rèn)證、REACH認(rèn)證、ROHS認(rèn)證、SRRC認(rèn)證、材料分析、成分檢測(cè)、尺寸檢測(cè)、燈具檢測(cè)、電池測(cè)試、產(chǎn)品壽命測(cè)試、ISTA包裝測(cè)試、PCBA電路板測(cè)試、電容測(cè)試、防爆認(rèn)證、鹽霧測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、質(zhì)量檢測(cè)報(bào)告!


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